Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Тезисы докладов всесоюзной конференции "Информационно-измерительные системы и точность в приборостроении"
сборник
Год издания:
1984
Место издания:
Москва
Сборник тезисов
Добавил в систему:
Кондрашов Павел Евгеньевич
Статьи, опубликованные в сборнике
1984
МЕТОДЫ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ФОТОШАБЛОНОВ С РАЗЛИЧНЫМИ МАСКИРУЮЩИМИ ПОКРЫТИЯМИ
Дашкевич Л.Л.
,
Кондрашов П.Е.
,
Мироненко Л.С.
в сборнике
Тезисы докладов всесоюзной конференции "Информационно-измерительные системы и точность в приборостроении"
, место издания
Москва
, тезисы, с. 98