East-West Design&Test Symposium (EWDTS’2009) - сборник | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

East-West Design&Test Symposium (EWDTS’2009)сборник

Год издания: 2009
Серия: Symposium EWDTS
Издательство: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Местоположение издательства: Piscataway, NJ, United States
Добавил в систему: Корныхин Евгений Валерьевич

Статьи, опубликованные в сборнике

- 2009 SMT-based Test Program Generation for Cache-memory Testing
- Корныхин Е.В.
- в сборнике East-West Design&Test Symposium (EWDTS’2009), серия Symposium EWDTS, издательство Institute of Electrical and Electronics Engineers (Piscataway, NJ, United States), с. 124-128