Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Нанофизика и наноэлектроника: Труды XXVII Международного симпозиума. 13–16 марта 2023 г
сборник
Год издания:
2023
Том:
2
Место издания:
ИПФ РАН Нижний Новгород
ISBN:
978-5-8048-0120-6
Сборник тезисов
Добавил в систему:
Флоринский Игорь Васильевич
Статьи, опубликованные в сборнике
2023
Использование морфометрических величин при изучении рельефа поверхности рентгенооптических элементов
Дедкова А.А.
,
Флоринский И.В.
,
Чернышев А.К.
в сборнике
Нанофизика и наноэлектроника: Труды XXVII Международного симпозиума. 13–16 марта 2023 г
, место издания
ИПФ РАН Нижний Новгород
, том 2, тезисы, с. 851-852