Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Ulis 2011 Ultimate Integration on Silicon
сборник
Год издания:
2011
Место издания:
IEEE
Добавил в систему:
Бурдель Константин Константинович
Статьи, опубликованные в сборнике
2011
20nm Gate length Schottky MOSFETs with ultra thin NiSi/epitaxial NiSi<inf>2</inf> source/drain
Knoll L.
,
Zhao Q.T.
,
Luptak R.
,
Trellenkamp S.
,
Bourdelle K.K.
,
Mantl S.
в сборнике
Ulis 2011 Ultimate Integration on Silicon
, место издания
IEEE
DOI