ИСТИНА

В настоящей работе в рамках статистической волновой оптики рассмотрена задача о влиянии шероховатостей поверхности на когерентные характеристики частично когерентного синхротронного излучения с энергией 10-20 кэВ, прошедшего через слабопоглощающую плоскопараллельную пластинку (модель выходного окна источника СИ). С использованием формализма, предложенного ранее в работе [2], получены аналитические выражения для пространственного профиля прошедшей интенсивности и функции пространственной когерентности в зависимости от размера и длины пространственной когерентности излучения источника, от среднеквадратичных высот и длин продольной корреляции поверхностных шероховатостей.