ИСТИНА

• Охват: Всероссийская
• Даты проведения: 1-4 декабря 1994
• Место проведения: Звенигород, Russia
• Добавил в систему: Проскурнина Елена Васильевна

Доклады:

• 1994 Drop-microprobe identification of microinclusions in surface layers of semiconductor supports for SBIS (Стендовый)
• Авторы: Kletskina E.V., Guimelfarb F.A., Borzenko A.G., Alimova A.N.