ИСТИНА

• Охват: Международная
• Даты проведения: 13-15 сентября 2000
• Место проведения: Ustron-Jaszowiec, Poland
• Добавил в систему: Прудников Илья Рудольфович

Доклады:

• 2000 Laue-case X-ray dynamical diffraction by imperfect multilayers. Recursion equations (Стендовый)
• Автор: Prudnikov I.R.

• 2000 X-ray study of SiC surface and bonding interface in compositions SiC/Si (Стендовый)
• Авторы: Argunova T.S., Grekhov I.V., Kostina L.S., Tur'yanskii A.G., Pirshin LV, Prudnikov I.R., Kim E.D., Kim S.C., Kim N.K.