Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Abstr. 4th European Conference on High Resolution X-ray Diffraction and Topography (Durham, U.K., 9-11 September 1998), P. P3.45.
Конференция
Даты проведения:
1998
Место проведения:
Durham, U.K.
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич
Доклады:
1998
Interfacial Roughness Correlation Function from Diffusion-like Growth Equation.
Авторы:
Бушуев В.А.
,
Козак В.В.
1998
Some Aspects of an Inverse Problem Decision in a Phase-Contrast Method.
Авторы:
Сергеев А.А.
,
Бушуев В.А.
1998
The New Features of X-ray Triple Crystal Diffractometry for Characterization of Microscale Surface and Interface Roughness of Single Crystal.
Автор:
Бушуев В.А.
, Ломов А.А.
1998
Wave Theory of X-ray Phase-Contrast Images. Sensitivity and Spatial Resolution.
Авторы:
Бушуев В.А.
,
Беляевская Е.А.
,
Ингал В.Н.
1998
X-ray High Resolution Reflectometry of Boron Layers, Received by Laser Sputtering on Silicon Substrates.
Авторы:
Петраков А.П.
,
Бушуев В.А.