Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Международная конференция "Физические основы надежности и деградации полупроводниковых приборов"
Конференция
Охват:
Международная
Даты проведения:
1985
Место проведения:
Кишинев
Число участников:
300
Число докладчиков:
200
Добавил в систему:
Левченко Владимир Анатольевич
Доклады:
1985
Применение термоиндикаторов для исследования надежности и прогнозирования отказов полупроводниковых приборов
(Устный)
Авторы:
Левченко В.А.
,
Шибаева Е.Ю.
,
Алтоиз Б.А.