|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Исследование туннельного тока в присутствии примесных атомов на поверхности полупроводников методом сканирующей туннельной микроскопии/спектроскопиидоклад на конференции
- Авторы: Манцевич В.Н., Панов В.И., Орешкин А.И., Маслова Н.С.
- Региональная Конференция : Ломоносовские чтения - 2010. Секция физики
- Даты проведения конференции: 19-23 апреля 2010
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Манцевич В.Н.
- Место проведения: Москва, Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова, Russia
- Добавил в систему: Манцевич Владимир Николаевич