ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Проведено аналитическое исследование оптических коэффициентов зеркального отражения и пропускания 1-D фотонного кристалла, который содержит повторяющиеся ультратонкие (толщина слоя около 1 нм) разделительные слои. Подробно рассмотрен частный случай двух разделительных пленок. Показано, что в зависимости от разницы между их толщинами и/или показателями преломления коэффициент зеркального отражения от всей структуры имеет один или два резонансных минимума в пределах фотонной запрещенной зоны. Определены условия, при которых интенсивность световой волны в окрестности каждой из ультратонких пленок резонансно возрастает или падает.