Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
An improved detection of the locally doped semiconductor regions with the scanning electron microscope
доклад на конференции
Авторы:
Orlikovsky N.A.
, Vasyuk I.P.,
Tagachenkov A.M.
,
Rau E.I.
Международная Конференция :
International Conference “Micro- and Nanoelectronics -2012”, ICMNE-2012
Даты проведения конференции:
2012
Дата доклада:
10 сентября 2012
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
Rau E.I.
не указан
Orlikovsky N.A.
Vasyuk I.P.
Tagachenkov A.M.
Rau E.I.
Место проведения:
Москва, Эвенигород, Russia
Добавил в систему:
Рау Эдуард Иванович