|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Fast Bidirectional Empirical Mode Decomposition in Image Processing And Analysisдоклад на конференции
- Автор: Крылов А.С.
- Международная Конференция (Семинар (workshop)) : Совместный с Самсунг Электроникс международный научный семинар “Методы обработки изображений для micro-LED дисплеев”
- Даты проведения конференции: 24 мая 2018
- Дата доклада: 24 мая 2018
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Крылов А.С.
- Место проведения: Москва, Russia
- Добавил в систему: Разгулин Александр Витальевич