ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Рассмотрены алгоритмы построения дендритов и анализа их фрактальных характеристик. Предложен способ многопараметрической идентификации, включающий определение скейлинговых параметров. Получены закономерности, определяющие связь между структурой дендритов и их картинами дифракции.