|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Новый метод определения фотоэлектрических параметров полупроводниковых пластин с р-п переходами.доклад на конференции
- Авторы: Морозова В.А., Кошелев О.Г.
- Всероссийская Конференция : 2-ая Российская конференция по физике полупроводников.
- Даты проведения конференции: 16-20 сентября 1996
- Дата доклада: 18 сентября 1996
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Зеленогорск. , Russia
- Добавил в систему: Кошелев Олег Григорьевич