![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
В докладе проводится анализ возможности спектроскопии поверхностного плазмонного резонанса in situ оценивать оптические константы, геометрию тонких пленок и некоторые другие физическо-химические характеристики иммобилизованных на поверхности веществ. Показано использование этого метода в качестве средства контроля за механическими и информационными функциями молекулярных машин. Рассмотрено сочетание поверхностного плазмонного резонанса с электрохимическими методами исследования. Кроме того, показана возможность использования спектроскопии ППР для создания оптических сенсоров на основе молекулярно импринтированных полимеров. Особое внимание будет уделено вопросам применения метода поверхностного плазмонного резонанса для изучения оптических, хемосенсорных и других физико-химических свойств фотохромных соединений спиропиранового ряда в растворах и на границе раздела фаз.