|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis of Advanced Oxide Nanomaterialsдоклад на конференции
- Авторы: Sharanov P., Filatova D., Alov N.
- Международная Конференция : Fourth International Conference on Radiation and Application in Various Fields of Research
- Даты проведения конференции: 23-27 мая 2016
- Дата доклада: 24 мая 2016
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: не указан
- Место проведения: г. Ниш, Serbia
- Добавил в систему: Шаранов Павел Юрьевич