Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
In-Situ Combination of Rapid Chip Calorimetry with Millisecond Time-Resolved X-ray Nano- and Micro-Diffraction for Addressing Fast Structural Processes
доклад на конференции
Авторы:
Rosenthal M.
,
Melnikov A.P.
,
Burghammer and M.
,
Ivanov D.A.
,
Doblas D.
Международная Конференция :
4th International Soft Matter Conference
Даты проведения конференции:
12-16 сентября 2016
Дата доклада:
12 сентября 2016
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
не указан
не указан
Rosenthal M.
Melnikov A.P.
Burghammer and M.
Ivanov D.A.
Doblas D.
Место проведения:
Grenoble, France
Добавил в систему:
Мельников Алексей Петрович