ИСТИНА

В лекции рассматриваются основы феномена полного внутреннего отражения света, явления поверхностного плазмонного резонанса (ППР) и возможность спектроскопии поверхностного плазмонного резонанса in situ оценивать оптические константы, геометрию тонких пленок и некоторые другие физическо-химические характеристики иммобилизованных на поверхности веществ. Показано использование этого метода в качестве средства контроля за механическими и информационными функциями молекулярных машин.