|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
X-ray High Resolution Reflectometry of Boron Layers, Received by Laser Sputtering on Silicon Substrates.доклад на конференции
- Авторы: Петраков А.П., Бушуев В.А.
- Конференция : Abstr. 4th European Conference on High Resolution X-ray Diffraction and Topography (Durham, U.K., 9-11 September 1998), P. P3.45.
- Даты проведения конференции: 1998
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Durham, U.K.
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич