Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Two methods of improving dopant contrast for semiconductor structures under thin surface layers in scanning electron microscope
доклад на конференции
Авторы:
Rau E.
,
Tatarintsev A.
,
Kolybin S.
,
Karaulov V.
,
Kupreenko S.
Международная Конференция :
International Conference "Micro- and nanoelectronics - 2016", October 3 - 7 , 2016, Moscow-Zvenigorod, Russia
Даты проведения конференции:
3-7 октября 2016
Дата доклада:
5 октября 2016
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
не указан
не указан
Rau E.
Tatarintsev A.
Kolybin S.
Karaulov V.
Kupreenko S.
Место проведения:
Москва- Звенигород, Russia
Добавил в систему:
Татаринцев Андрей Андреевич