Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Study of immobilization of polyacrylamide on oxidized silicon surface by X-ray reflectometry and atomic force microscopy
доклад на конференции
Авторы:
Avdeev M.M.
,
Kosiachkin Ye N.
,
Artykulnyi O.P.
,
Gorshkova Yu E.
,
Shibaev A.V.
,
Philippova O.E.
Международная Конференция :
International Conference "Condensed Matter Research at the IBR-2"
Даты проведения конференции:
12-16 октября 2020
Дата доклада:
12 октября 2020
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
Avdeev M.M.
не указан
Avdeev M.M.
Kosiachkin Ye N.
Artykulnyi O.P.
Gorshkova Yu E.
Shibaev A.V.
Philippova O.E.
Место проведения:
Дубна, Объединенный институт ядерных исследований, Russia
Добавил в систему:
Авдеев Михаил Михайлович