ИСТИНА

Структурные исследования в 21 веке сосредоточены на определении не столько геометрического расположения атомов, сколько на их физических характеристиках с разрешением по атомным слоям. Именно такие исследования для многослойных пленок проводятся методом ядерно-резонансной рефлектометрии (ЯРР), которому посвящен настоящий доклад. Метод чувствителен к магнитным и электрическим характеристикам атомов резонансных изотопов и обладает разрешением по глубине < 1 нм. Важной особенностью ЯРР является возможность измерять не только резонансные рефлектометрические кривые, но и мессбауэровские спектры отражения для разных углов скольжения. На синхротронном излучении спектры обычно измеряются на временной шкале распада возбужденных уровней ядер. Примером таких исследований является эксперимент проведенный на Spring-8, давший картину реориентации магнитных моментов (через неколлинеарные скрученные состояния) в антиферромагнитно-упорядоченной структуре [57Fe(3.0 nm)/Cr(1.2 nm)]10 под действием приложенного внешнего поля.