ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
В данной работе представлена разработка функционала программного обеспечения для молекулярно-динамического моделирования структурных свойств оксидов, лежащих в основе работы ячеек резистивной памяти.