Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Изучение совершенства поверхности полупроводниковых кристаллов после микро и нанополирования методом обратного резерфордовского рассеяния (РОР) ионов
доклад на конференции
Авторы:
Артемов А.С.
,
Куликаускас В.С.
,
Рузавин И.Г.
,
Черных П.Н.
,
Фарафонов С.Б.
Международная Конференция :
XL Международная конференция по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами. Москва. 25 -27 мая 2010 г. С.60.
Даты проведения конференции:
2010
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Артемов А.С.
Куликаускас В.С.
Рузавин И.Г.
Черных П.Н.
Фарафонов С.Б.
Место проведения:
Москва, Russia
Добавил в систему:
Черных Павел Николаевич