|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
The comparison of different techniques of layer-by-layer analysis for germanium in PbTe diffusion investigationsдоклад на конференции
- Авторы: Шаталова Т.Б., Яшина Л.В., Козловский В.Ф., Bobruiko V.B.
- Международная Конференция : International School-Conference "Physical problems in material science of semiconductors”
- Даты проведения конференции: 1995
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Chernivtsi
- Добавил в систему: Шаталова Татьяна Борисовна