Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
The comparison of different techniques of layer-by-layer analysis for germanium in PbTe diffusion investigations
доклад на конференции
Авторы:
Шаталова Т.Б.
,
Яшина Л.В.
,
Козловский В.Ф.
,
Bobruiko V.B.
Международная Конференция :
International School-Conference "Physical problems in material science of semiconductors”
Даты проведения конференции:
1995
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Шаталова Т.Б.
Яшина Л.В.
Козловский В.Ф.
Bobruiko V.B.
Место проведения:
Chernivtsi
Добавил в систему:
Шаталова Татьяна Борисовна