|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Исследования степени достоверности определения высот рельефа сверхтонких эпитаксиальных пленок Mo методами СТМ и АСМдоклад на конференции
- Авторы: Фомин Л.А., Маликов И.В., Березин В.А., Логинов А.Б., Логинов Б.А.
- Международная Конференция (Симпозиум) : XXV Международный симпозиум «Нанофизика и Наноэлектроника»
- Даты проведения конференции: 9-12 марта 2021
- Дата доклада: 9 марта 2021
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Нижний Новгород, Russia
- Добавил в систему: Логинов Артем Борисович