ИСТИНА

Одним из высокоинформативных методов исследования графита является атомно-силовая микроскопия (АСМ) и туннельная сканирующая микроскопия (СТМ).В данной работе был исследован эффект образования дефектов на поверхности графита при помощи атомно-силового микроскопа (АСМ). При подводе к поверхности игла касается поверхности, а затем резко отводится. В момент касания происходит захватывание верхних слоёв. Это происходит до тех пор, пока упругая энергия деформации слоёв не превысит энергию образования линии излома. Кантилевер имеет заданную жёсткость, что позволяет определить фактическую силу его воздействия на поверхность графита по отклонению светового пятна на фотодиоде.