Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Depth of origin of sputtered atoms for elemental targets
доклад на конференции
Авторы:
Eckstein W.
,
Shulga V.I.
Международная Конференция :
4th International Conference on Computer Simulation of Radiation Effects in Solids
Даты проведения конференции:
15-19 сентября 1998
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Eckstein W.
Shulga V.I.
Место проведения:
Okayama University of Science, Okayama, Japan, Japan
Добавил в систему:
Шульга Владимир Иванович