|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Depth of origin of sputtered atoms for elemental targetsдоклад на конференции
- Авторы: Eckstein W., Shulga V.I.
- Международная Конференция : 4th International Conference on Computer Simulation of Radiation Effects in Solids
- Даты проведения конференции: 15-19 сентября 1998
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Okayama University of Science, Okayama, Japan, Japan
- Добавил в систему: Шульга Владимир Иванович