Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Комплектно-фазовая микроскопия для исследования гладкости поверхности и однородности структуры высокомолекулярных объектов на примере хитозановых пленок
доклад на конференции
Авторы:
Гордиенко Т.В.
,
Шалыгин А.Н.
,
Вышенская Т.В.
Международная Конференция :
Международная конференция "Математика Компьютер Образование"
Даты проведения конференции:
1998
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Гордиенко Т.В.
Шалыгин А.Н.
Вышенская Т.В.
Место проведения:
Дубна
Добавил в систему:
Гордиенко Татьяна Валерьевна