|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Использование морфометрических величин при изучении рельефа поверхности рентгенооптических элементовдоклад на конференции
- Авторы: Дедкова А.А., Флоринский И.В., Чернышев А.К.
- Международная Конференция (Симпозиум) : XXVII Международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника»
- Даты проведения конференции: 13-15 марта 2023
- Дата доклада: 13 марта 2023
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Дедкова А.А.
- Место проведения: Нижний Новгород, Russia
- Добавил в систему: Флоринский Игорь Васильевич