ИСТИНА

ИК-спектроскопия и микроскопия органических и гибридных материалов представляют собой базовые методики их характеризации. В то же время, использование этих методов для изучения наноструктурированных материалов ограничивается пространственным разрешением. Указанный недостаток может быть преодолен за счет использования активно развивающихся методов безапертурной сканирующей ближнепольной микроскопии, в том числе в ИК-диапазоне длин волн. В лекции представлены результаты использования рассматриваемого метода для исследования распределения органических молекулярных модификаторов, структуры тонких пленок перспективных полупроводниковых полимеров, процессов фотохимической и радиационной деградации органических и гибридных функциональных наноматериалов с нанометровым пространственным разрешением.