ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
В данной работе исследовано распределение концентрации наполнителя в поверхностном слое композиционных материалов полипропилен – технический углерод с помощью времяпролетной масс-спектрометрии вторичных ионов (TOFSIMS). Химическое картирование образцов в характеристических ионах позволило определить глубинный профиль концентрации наполнителя в композите. Полученные данные свидетельствуют о том, что на поверхности нанокомпозита полипропилен/технический углерод имеется слой, обогащенный техническим углеродом. Полученные методом TOFSIMS результаты согласуются с данными о градиентной структуре тех же полимерных нанокомпозитов, определенными с помощью спектроскопии комбинационного рассеяния.