|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Анализ поверхности плотных мембранных фильтров на основе палладия методом атомно-силовой микроскопиидоклад на конференции
- Авторы: Акимова O.В., Каминская Т.П., Горбунов С.В.
- Всероссийская Конференция : Электронно-лучевые технологии и рентгеновская оптика в микроэлектронике
- Даты проведения конференции: 13-16 ноября 2023
- Дата доклада: 13 ноября 2023
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Акимова O.В.
- Место проведения: г. Черноголовка, Россия
-
Аннотация доклада:
В работе проведен сравнительный анализ морфологии поверхности мембранных фильтров палладиевых сплавов Pd95Pb5 и Pd93.5In6.0Ru0.5 (числовые индексы-массовое содержание компонент сплавов). Показано влияние элементов легирования палладия на формирование рельефа поверхности плотных мембранных фильтров
- Добавил в систему: Акимова Ольга Владимировна