ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
В докладе рассмотрены физические основы рентгеновского рассеяния, математический аппарат анализа картины рассеяния в прямом пространстве с использованием функции парного распределения. В докладе приведены примеры решения практических задач анализа строения и свойств веществ с использованием полного рентгеновского рассеяния синхротронного излучения. В докладе приведен обзор специализированных лабораторных приборов для регистрации полного рентгеновского рассеяния, а также рассказано о возможности использования лабораторного монокристального дифрактометра для получения функции парного распределения сопоставимых с данными полученными на синхротронных источниках. Приведены примеры исследования строения твердых образцов и молекул в растворе.