ИСТИНА

Эффект сбоя бортовой электроники от одного иона может происходить не только от ионизации материала первичными ионами, но также от взаимодействия заряженных фрагмен- тов ядерной реакции [1, 2] с одним из материалов интегральной схемы. При одном столкновении с ядром образуется сразу несколько вторичных заряженных частиц. Их неупру- гие потери энергии и заряды значительно больше, чем у первичного протона. Продукты ядерных реакций несут информацию не только о механизмах реакций, но и о динамике образования и распада промежуточных составных ядер [3]. Метод Монте-Карло [4] используется для исследования состава, энергии и линейной передачи энергии продуктов ядерных реакций в столкновениях быстрых протонов с ядрами тантала и вольфрама. Сравниваются результаты, полученные для неупругого взаимодействия протонов с энергией E ≤ 10 ГэВ