ИСТИНА

С уменьшением размера и увеличением плотности элементов, переходом от микро- электроники к наноэлектронике растет вероятность генерации ложного сигнала не только в одном, но и в нескольких битах при прохождении одиночной частицы космического иони- зирующего излучения через элемент бортовой электроники космического аппарата. В данной работе вероятность многобитового сбоя (МБС) изучается на базе упрощенного аналитического подхода и сопоставляется с результатами расчетов на основе метода Монте-Карло. Анализируется увеличение вероятности МБС с р остом ионизационных потерь падающей частицы и плотности битов в чипе.