|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Применение методов электронной спектроскопии для исследования тонких пленок и ионно-модифицированных материаловдоклад на конференции
- Авторы: Быков П.В., Картапова Т.С., Гильмутдинов Ф.З.
- Международная Конференция : 15 Международный Уральский семинар «Радиационная физика металлов и сплавов»
- Даты проведения конференции: 26 февраля - 1 марта 2024
- Дата доклада: 28 февраля 2024
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Быков П.В.
- Место проведения: г. Кыштым, Russia
-
Аннотация доклада:
Определение массовой плотности тонких пленок углеродных материалов по сателлитам потерь энергии фотоэлектронов
- Добавил в систему: Быков Павел Владимирович