Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Магнитооптика высокого разрешения на углеродных апертурных кантилеверах для характеризации доменной структуры и топографии тонких пленок
доклад на конференции
Авторы:
Михайлова Т.В.
,
Высоких Ю.Е.
,
Краснобородько С.Ю.
,
Коломийцев А.С.
,
Шапошников А.Н.
,
Бержанский В.Н.
,
Булатов М.Ф.
,
Чуриков Д.В.
Международная Конференция (Симпозиум) :
XXIV Международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника»
Даты проведения конференции:
10-13 марта 2020
Дата доклада:
10 марта 2020
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
не указан
не указан
Михайлова Т.В.
Высоких Ю.Е.
Краснобородько С.Ю.
Коломийцев А.С.
Шапошников А.Н.
Бержанский В.Н.
Булатов М.Ф.
Чуриков Д.В.
Место проведения:
Нижний Новгород, Russia
Добавил в систему:
Булатов Марат Фатыхович