|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Modeling of nondestructive method for doped semiconductor layer diagnostics and experimental realization in a colloidal quantum dotsдоклад на конференции
- Авторы: Smirnov A.M., Dneprovskii V.S., Boriskin A.G.
- Международная Конференция : SPIE Optical Metrology (EOM17)
- Даты проведения конференции: 25-29 июня 2017
- Дата доклада: 28 июня 2017
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Smirnov A.M.
- Место проведения: Internationales Congress Center, Munich, Germany
- Добавил в систему: Смирнов Александр Михайлович