|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Defect formation and recrystalization in the films silicon on sapphire under Si+ irradiationдоклад на конференции
- Авторы: Шемухин А.А., Балакшин Ю.В., Иешкин А.Е., Черныш В.С., Назаров А.В.
- Международная Конференция : 26th International Conference on Atomic Collisions in Solids (ICACS 26)
- Даты проведения конференции: 2014
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Шемухин А.А.
- Место проведения: Debrecen, Hungary, Hungary
- Добавил в систему: Иешкин Алексей Евгеньевич