|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Reflection second harmonic microscopy of porous silicon structuresдоклад на конференции
- Авторы: Anton Maidikovski, Jung Yongseok, Sergey Magnitskiy, Aktsipetrov Oleg A., Alexandr Ejov, Fedor Sychev, Nikolay Nagorsky
- Конференция : Frontiers in Optics -- 90th OSA Annual Meeting, New York, USA, Oct 8 - 12, 2006
- Даты проведения конференции: 2006
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Добавил в систему: Магницкий Сергей Александрович