Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Characterization of the MOVPE grown InGaAs/InGaAsP quantum wells by means of photoreflectance
доклад на конференции
Авторы:
Avakyants L.P.
,
Bokov P.Yu
,
Zvonkov B.N.
,
Meahchankin A.V.
,
Chervyakov A.V.
Международная Конференция :
17th International Conference on Metalorganic Vapor Phase Epitaxy
Даты проведения конференции:
2014
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Avakyants L.P.
Bokov P.Yu
Zvonkov B.N.
Meahchankin A.V.
Chervyakov A.V.
Место проведения:
Lausanne, Switzerland, 13th – 18th July 2014, Switzerland
Добавил в систему:
Боков Павел Юрьевич