![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Сканирующий зондовый микроскоп был использован для получения микрорельефа на поверхностях металлов. С помощью зондов с алмазным покрытием и с монокристаллическим алмазом получены структуры глубиной более 200 нм на поверхностях никеля и меди.