Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Microscope successful to see through the uppermost atomic layer of single crystal: Principles and applications
доклад на конференции
Авторы:
Tatur A.E.
,
Samoilov V.N.
Международная Конференция :
5th International Conference on Computer Simulation of Radiation Effects in Solids (COSIRES 2000)
Даты проведения конференции:
24-28 июля 2000
Дата доклада:
26 июля 2000
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
Samoilov V.N.
не указан
Tatur A.E.
Samoilov V.N.
Место проведения:
State College, Pa., U.S.A., United States
Добавил в систему:
Самойлов Владимир Николаевич