Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Computer studies of the 'surface' mechanism of preferential sputtering of two-component solids. Ion beam analysis of surface composition in low dose regime
доклад на конференции
Авторы:
Samoilov V.N.
,
Yastrghembsky V.I.
,
Tatur A.E.
Международная Конференция :
12th International Conference on Ion Beam Analysis
Даты проведения конференции:
22-26 мая 1995
Дата доклада:
23 мая 1995
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
Samoilov V.N.
не указан
Samoilov V.N.
Yastrghembsky V.I.
Tatur A.E.
Место проведения:
Tempe, Arizona, U.S.A., United States
Добавил в систему:
Самойлов Владимир Николаевич