|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Дифрационные и спектральные методы исследования тонкопленочных материалов и гетероструктуручебный курс
- Автор: Цымбаренко Д.М.
- Год создания: 2016
- Организация: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Описание: В учебном курсе рассматриваются современные инструментальные методы исследования тонкопленочных материалов и гетероструктур - рентгенография тонких пленок (различные геометрии съемки), рентгеновская рефлектометрия, дифракция обратно рассеянных электронов, резерфордовское обратное рассеяние, рентгеновская фотоэлектронная и Оже-спектроскопия, спектроскопия энергетических потерь электронов. Рассматривается аппаратурное обеспечение методов, математический аппарат.
- Добавил в систему: Цымбаренко Дмитрий Михайлович
Преподавание курса
- 1 ноября 2016 - 29 декабря 2016 Цымбаренко Дмитрий Михайлович
- МГУ имени М.В. Ломоносова, Химический факультет, Кафедра неорганической химии
- обязательная, вариативной части, лекции, 18 часов
- Автор: Цымбаренко Д.М.