Описание:В курсе лекций проведено последовательное изложение динамической теории рассеяния рентгеновских лучей и нейтронов с длиной волны порядка 0.1 нм, которая лежит в основе целого ряда дифракционных и рефлектометрических методов исследования структуры тончайших приповерхностных слоев материалов современной твердотельной микро- и наноэлектроники, а также магнитных материалов и систем. В настоящее время любая микроэлектронная схема представляет собой специальным образом созданную полупроводниковую структуру в приповерхностном слое высокосовершенного кристалла. В связи с необходимостью диагностики с нанометровым разрешением рентгеновские методы занимают одно из основных мест в современной нанофизике и наноэлектронике. В лекционном курсе содержатся базовые знания о принципах построения волновой теории дифракции рентгеновских лучей и нейтронов в совершенных и реальных кристаллах с учетом многократного динамического рассеяния. В рамках курса студенты познакомятся с современными методами рентгеновской и нейтронной диагностики структурного совершенства материалов твердотельной микро- и наноэлектроники и магнитной структуры кристаллов. Помимо лекций, контрольных опросов и кратких докладов студентов приводится самая современная информация по материалам последних научных конференций и семинаров.