|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Физические основы и методы рентгеновской дифрактометрииучебный курс
- Автор: Русаков Вячеслав Серафимович
- Год создания: 2017
- Организация: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Описание: Краткое содержание тем спецкурса. Тема 1. Рентгеновское излучение и его свойства. Природа рентгеновского излучения. Спектр рентгеновского излучения. Тормозное и характеристическое излучения. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом. Поглощение рентгеновского излучения веществом. Дисперсия рентгеновского излучения. Преломление рентгеновских лучей. Упругое и неупругое рассеяние. Тема 2. Основные понятия и элементы структурной кристаллографии. Пространственная решетка кристалла. Кристаллографические индексы. Симметрия кристаллов, операции и элементы симметрии. Взаимодействие операций симметрии. Точечные и пространственные группы симметрии. Классы симметрии, сингонии и категории. Координатные системы решеток. Типы решеток Бравэ. Обратная решетка и ее свойства. Межплоскостные расстояния и квадратичная форма кристаллической решетки. Тема 3. Основы теории рассеяния рентгеновского излучения на пространственной решетке. Рассеяние свободным электроном. Дифференциальное и полное сечения рассеяния. Рассеяние совокупностью свободных электронов. Рассеяние излучения атомом, атомная амплитуда рассеяния. Основы теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллом. Условия Лауэ. Дифракция как отражение от атомных плоскостей – уравнение Вульфа-Брэгга. Структурная амплитуда. Амплитуда рассеяния рентгеновских лучей кристаллом. Интерференционная функция Лауэ. Теория интенсивности дифракционных максимумов. Интенсивность рассеяния единичным электроном. Структурный фактор и погасания. Правило Фриделя и лауэвский класс симметрии. Температурный фактор. Геометрический фактор. Фактор повторяемости. Фактор поглощения. Интегральная интенсивность дифракционного максимума для поликристалла. Статистика интенсивности рентгеновского излучения. Тема 4. Основные методы рентгеновского дифракционного анализа. Метод Лауэ, метод Дебая-Шерера, метод вращения монокристалла. Высокоразрешающая дифрактометрия. Энергодисперсионная дифрактометрия. Тема 5. Аппаратура для рентгеновской дифрактометрии. Источники рентгеновского излучения. Коллиматоры и монохроматоры рентгеновского излучения. Детекторы рентгеновского излучения. Рентгеновские дифрактометры. Тема 6. Основные направления применения порошковой дифрактометрии. Индицирование порошковых дифрактограмм. Качественный и количественный рентгеновский фазовый анализ. Определение средних размеров кристаллитов в образце. Изучение текстур – характера преимущественной ориентации кристаллитов. Изучение внутренних напряжений по профилю и сдвигу линий. Структурный анализ на основе данных порошковой дифрактометрии (метод Ритвельда).
- Добавил в систему: Русаков Вячеслав Серафимович
Преподавание курса
- 1 сентября 2017 - 31 декабря 2017 Русаков Вячеслав Серафимович
- МГУ имени М.В. Ломоносова, Физический факультет, Отделение экспериментальной и теоретической физики, Кафедра общей физики
- обязательная, вариативной части, лекции, 36 часов
- Автор: Русаков Вячеслав Серафимович