ИСТИНА

Микроскопия высокого разрешения – сканирующая зондовая и микролинзовая микроскопия позволяют изучать мягкую материю, включая биологические объекты, на воздухе и в жидкости с субнанометровым пространственным разрешением. Реализуемая 3D визуализация не только геометрии объектов, но и их локальных физико-химических и электрохимических свойств позволяет получить новую уникальную информацию, представляющую большую ценность для многих областей современной науки. Целью исследования является разработка метрологических основ измерений в микроскопии высокого разрешения, создание средств измерений в нанометровом диапазоне, стандартных образцов и мер. Особое значение имеет проведение теоретического и экспериментального моделирование факторов и процессов, ограничивающих точность измерений в наномасштабе, - флуктуаций, шумов, тепловых дрейфов, квантовых эффектов и пр. В работе предполагается провести физическое обоснование и экспериментальную реализации эталона нанометра и систем механического перемещения с субнанометровой точностью. В качестве объектов изучения и измерения будут выбраны полимерные материалы, биополимеры и объекты живой материи (бактерии, клетки, живая ткань).